Marka: GAERTNER

Model: LSE 2085 - AK

Açıklama:  Elipsometre, malzemelerin kalınlığını ve optik sabitleri (n, k) bulmakta kullanılan optik bir yöntemdir. Malzemenin optik sabitlerinin bilinmesi durumunda film kalınlığı, film kalınlığının bilinmesi durumunda da optik sabitleri bulunabilir. Polarize ışık demeti malzemeden yansır ve yansıyan ışın polarizasyon durumu için analiz edilir. Kutuplanmadaki değişim genlik oranı Ѱ ve faz değişimi Δ ile ifade edilir. Elde edilen veriler her bir malzemenin optik özelliklerine ve ölçülen filmin kalınlığına bağlıdır. Polarizasyondaki ölçülen değişim, malzemenin özelliklerini ortaya çıkarmakta kullanılır.

Sorumlu: Öğr. Gör. Dr. Menekşe ŞAKİR(İletişim: 0352 207 66 66 / 13804) (e-mail: ilkertorun@erciyes.edu.tr)