Marka: Bruker

Model: LUMOS II

Açıklama: IR spektroskopisinde katı, ince film ve toz halindeki örneklerin spektrumları alınabilir. Bu yöntemde amaç herhangi bir bileşiğin yapısı hakkında bilgi sahibi olmak veya yapısındaki değişiklikleri incelemektir. Bileşiğin alınan IR spektrumu ile yapıdaki bağların durumu, bağlanma yerleri, yapının aromatik veya alifatik olduğuna dair bir bilgi edinilebilir. Alınan spektrumlar, saf bileşiklerin spektrumlarının yer aldığı kütüphanedeki spektrumlarla karşılaştırılarak bileşik analizi yapılabilir. IR mikroskop ünitesi ile görüntülenen farklı bölgelerden nokta analizi almak mümkündür. Boyut çözünürlüğü 20 mikrometredir. Aşındırıcı, asidik ve bazik maddeler için uygun değildir. FTI-R spektrumu genellikle ATR modunda ölçülür. Bu nedenle numune tahrip edilebilir.

Sorumlu: Öğr. Gör. Dr. Menekşe ŞAKİR (İletişim: 0352 207 66 66 / 13804) (e-mail: meneksesarihan@erciyes.edu.tr)