Marka: ZEISS

Model: EVO LS10

Dedektörler: SE, BSD, STEM Elementsel analizler için EDS (Bruker)

Açıklama: Sıvı olmayan/sıvı özellik taşımayan her türlü iletken malzemenin yüzey ve kesit görüntülemesi yapılmaktadır. İletken olmayan örnekler için angström mertebelerinde çok ince bir kaplama yapılmaktadır. BSD ile kompozisyon analizi, faz görüntülemesi yapılmaktadır. STEM dedektörü ile nanoparçacık veya hücre/doku görüntülemesi yapılmaktadır. EDS ile malzemelerin elementsel analizleri ve haritalamaları yapılmaktadır.

Sorumlu: Uzman Mehmet Hanifi ADIYAMAN (İletişim: 0352 207 66 66 / 13827) (e-mail: mehmethanifiadiyaman@erciyes.edu.tr